L’AWG710 combine une excellente fid\u00e9lit\u00e9 du signal avec une simulation de signaux mixtes ultra-rapide, une puissante fonction de s\u00e9quen\u00e7age et une interface utilisateur graphique dot\u00e9e d’un \u00e9diteur de formes d’onde flexible, pour relever les d\u00e9fis de mesure les plus complexes dans les secteurs des disques durs, des communications et de la conception\/test de semi-conducteurs. Sa fr\u00e9quence d’\u00e9chantillonnage de 4,0 GS\/s simule des signaux r\u00e9els jusqu’\u00e0 2,0 GHz. Deux marqueurs avec une gigue de 1,6 ps RMS assurent une synchronisation ultra-stable du dispositif test\u00e9. La r\u00e9solution verticale de 8 bits garantit une r\u00e9plication pr\u00e9cise du signal. La longueur d’enregistrement de 16 millions de points permet de g\u00e9rer des flux de donn\u00e9es longs sur supports s\u00e9rie ou rotatifs. Le mode g\u00e9n\u00e9rateur de fonctions EZ permet la cr\u00e9ation et l’\u00e9dition rapides de formes d’onde sinuso\u00efdales, carr\u00e9es, triangulaires, en rampe, impulsionnelles et continues. Le s\u00e9quen\u00e7age en temps r\u00e9el cr\u00e9e des boucles, des sauts, des motifs et des branchements conditionnels de formes d’onde \u00e0 l’infini. Il est \u00e9quip\u00e9 d’interfaces GPIB et LAN (10\/100Base-T).<\/p>\n","protected":false},"excerpt":{"rendered":"
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