Fr\u00e9quence d’\u00e9chantillonnage de 4,2 GS\/s simulant des signaux r\u00e9els jusqu’\u00e0 2,1 GHz. 2 marqueurs avec une gigue de 2,0 psRMS (\u00e0 4,2 GS\/s, typique) assurant une synchronisation stable du dispositif test\u00e9 (DUT). Longueur d’enregistrement de 32,4 millions (32 400 000) ou 64,8 millions (64 800 000) de points permettant des flux de donn\u00e9es plus longs. Bande passante analogique jusqu’\u00e0 2 GHz (option 02, calcul\u00e9e en fonction du temps de mont\u00e9e) offrant la plus haute fid\u00e9lit\u00e9 de signal parmi tous les AWG haute vitesse. L’entr\u00e9e d’horloge externe directe permet l’utilisation de signaux avec et sans gigue pour le test de marge de synchronisation des flux de donn\u00e9es haute vitesse jusqu’\u00e0 4,2 Gb\/s. Le mode de fonctionnement synchrone prend en charge la synchronisation de deux sorties AWG710B (2 : analogiques, 4 : marqueurs) pour les tests de communication sans fil et de donn\u00e9es \u00e0 haut d\u00e9bit et les tests de strat\u00e9gie de canal d’\u00e9criture optique. L’\u00e9diteur rapide de formes d’onde avec une r\u00e9solution temporelle de front de 300 fs offre un contr\u00f4le du front de sortie avec une pr\u00e9cision quasi temps r\u00e9el. Il permet une fonction de mixage num\u00e9rique \u00e0 deux signaux pour la prise en charge des tests de performance de bruit des disques durs et des tests de communication de donn\u00e9es s\u00e9rie avec pr\u00e9-\/d\u00e9saccentuation. Le s\u00e9quen\u00e7age en temps r\u00e9el cr\u00e9e des boucles, des sauts, des motifs et des branchements conditionnels de formes d’onde infinis.<\/p>\n","protected":false},"excerpt":{"rendered":"
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