BSX320 Bit Error Rate Tester Pat Gen & Error Analyzr up to 32 Gb/s

Le testeur de taux d’erreur binaire Tektronix BSX320 BERTScope de la série BSX constitue une plateforme de test de récepteur compatible avec les normes Gen4 émergentes et les suivantes. Grâce à un traitement de données performant et à une égalisation d’émission interne, le BSX320 BERTScope prend en charge l’établissement de liaison et la synchronisation avec le dispositif testé (DUT) via un protocole, y compris l’apprentissage interactif de la liaison à des débits de données allant jusqu’à 32 Gbit/s. Faisant partie de la série BSX, le BSX320 réduit le temps de débogage des problèmes de couche physique et d’apprentissage des liaisons, et offre la voie la plus rapide vers la conformité à un large éventail de normes. Caractéristiques et spécifications clés du Tektronix BSX320 : Génération de motifs et analyse d’erreurs jusqu’à 32 Gb/s ; Égalisation d’émission 4 taps intégrée (en option) avec prise en charge de l’apprentissage interactif des liaisons ; Séquençage de motifs multichaînes orienté protocole et bit avec éditeur de motifs/séquences amélioré ; Appariement de motifs de détecteurs défini par l’utilisateur avec retour d’information stimulus-réponse ; Analyse brevetée de localisation des erreurs : va au-delà de la mesure du BER pour fournir des informations sur les sources d’erreurs grâce à l’analyse des corrélations et des motifs d’erreurs déterministes ; Analyse optionnelle de correction d’erreurs sans voie de retour (FEC) permettant la simulation du taux d’erreur post-FEC basée sur les motifs de localisation des erreurs mesurés ; Analyse intégrée du diagramme de l’œil avec corrélation du BER, incluant le test de masque, le pic de gigue et le contour du BER ; Carte de gigue (en option) ; Décomposition complète de la gigue, avec motif long (par exemple, PRBS-31). Le testeur de taux d’erreur binaire Tektronix BSX320 est disponible à la location chez Rentaltec.