DPO7254 4 Ch 2.5 GHz Digital Oscilloscope

L’oscilloscope numérique à phosphore Tektronix DPO7254 apporte une solution aux problèmes complexes d’intégrité du signal rencontrés par les concepteurs lors de la vérification, la caractérisation, le débogage et le test de circuits électroniques sophistiqués. Cet oscilloscope offre des performances exceptionnelles en acquisition et analyse de signaux, une grande simplicité d’utilisation et des outils de débogage performants pour accélérer vos tâches quotidiennes. Son écran tactile de 12,1 x 22 pouces et son interface utilisateur intuitive permettent d’accéder facilement à un maximum d’informations. La fonction MyScope permet de créer des fenêtres de contrôle personnalisées, avec uniquement les commandes, fonctions et capacités nécessaires, grâce à une interface visuelle simple de type glisser-déposer. Une fois créées, ces fenêtres sont facilement accessibles via un bouton MyScope dédié et une sélection dans le menu de l’oscilloscope, comme n’importe quelle autre fenêtre de contrôle. Ainsi, chaque utilisateur d’un environnement partagé dispose de sa propre fenêtre de contrôle. Tout ce dont l’utilisateur a besoin se trouve dans une seule fenêtre de contrôle, évitant ainsi de naviguer constamment dans des menus pour effectuer des tâches similaires. Le logiciel OpenChoice de l’oscilloscope numérique à phosphore DPO7254 permet de personnaliser son système de test et de mesure grâce à des outils d’analyse familiers. Les fonctionnalités d’analyse et de mise en réseau d’OpenChoice offrent une plus grande flexibilité aux oscilloscopes Tektronix sous Windows XP : grâce au bus embarqué rapide, les données de forme d’onde peuvent être transférées directement de l’acquisition vers les applications d’analyse sur le poste de travail Windows à une vitesse bien supérieure aux transferts GPIB classiques. Le mode d’acquisition FastAcq accélère le débogage en révélant clairement les imperfections. FastAcq capture des signaux à plus de 250 000 formes d’onde par seconde sur les quatre voies simultanément, augmentant considérablement la probabilité de détecter des défauts rares.